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                文章詳情

                LCR阻抗測試儀的技術背景描述

                日期:2022-10-07 03:44
                瀏覽次數:1098
                摘要:
                    LCR阻抗測試儀采用的方法有自動平衡電橋法、矢量網絡分析法、I-V法。電橋法測量精度高,但需要手動平衡調節,其標準電阻需要手動換擋,測量反復調節、測量時間長,因而相應出現了自動平衡電橋法,其適用于寬頻率、寬阻抗范圍測量,但卻不適應于高頻測量,其測量頻率范圍為20—110MHz,測量頻率低,對于100MHz至3GHz的測量,射頻I-V法有較好的測量的能力,對于3GHz及更高的頻率,則較多采用網絡分析法。

                    應用網絡分析法的矢量網絡分析儀通過測量反射系數Γx根據公式Γx=(Zx-Zo)/(Zx+Zo)求阻抗Zx(Zo一般為50歐姆),如反射系數Γx隨阻抗變化的曲線,由可知Γx隨測量阻抗變化是非線性關系,當測量阻抗接近50歐姆時線性*好,當測量阻抗遠離50歐姆時線性度變差,此時當阻抗值變化很大時,反射系數可能變化很小,影響測量精度。因此矢量網絡分析儀只能對接近其自身特性阻抗(通常50歐姆)的阻抗進行**測量,存在測量誤差大、測量阻抗范圍較窄的缺點。因此提供的LCR阻抗測試儀解決了上述問題。

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